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HORIBA의 입도분석기는 나노분야에서 과립분야까지 분석이 가능한 세계유일의 초고정밀 분석기 입니다.

품질관리가 엄격한 반도체 세정분야뿐 아니라 전 산업체 분야에서도 HORIBA의 입도분석기가 대응하고 있습니다.

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▶ 넓은 측정 범위

0.01 ~ 3,000um (Wet)

0.1 ~ 5,000um (Dry)

▶ 짧은 측정 시간 (1분 이내 측정 결과)

▶ 정확성 : ±0.6%

▶ ISO 13320 : 2009 규격

▶ 다양한 액세서리와 손쉬운 탈 장착

▶ 높은 Data 정확도와 재현성의 보증

20nm (mean size) PSL의 측정 가능

▶ 컴팩트한 설계 (All in one)

▶ 쉬운 소프트웨어 운영으로 사용자의 편의 제공

▶ 21 CFR Part 11 소프트웨어

**LA-960 성능은 NIST 추적 가능한 단 분산 및 다 분산 크기 표준을 갖춘 모든 장치에서 검증되었습니다.**

**작은 사이즈 측정의 고정밀도 분석 (~10um)**

- 작은 크기의 입도 측정시 (1um 이하의)측면과 후방에 대한 산란이 강하게 일어납니다.

측면과 후방의 검출기 밀도를 높임으로써 작은 사이즈 분석에 대한 정확도를 높습니다.

*정밀도 및 재현성

- LA-960은 NIST traceable particle standard 샘플에 관하여 0.6%의 정확도와 0.1%의 재현성을 보증 합니다.

Measurement Method	Mie Scattering Theory
Measurement Range	0.01 μm to 5000 μm
Measurement Time	1 minute from dispersion liquid filling to measurement and rinse.
Sampling System	Required Sample Amount：Sample 10 mg to 5 g (Depends on sample material) Dispersion Medium：Approx. 180 mL to 250 mL (Using Flow Cell) Viscosity：Less than 10 mPa・s
Optical System	Light Source：650 nm Laser Diode approx. 5.0 mW 405 nm Light Emitting Diode (LED) approx. 3.0 mW Detectors：Silicon Photo Diode
Circulation System	Ultrasonic Probe：Frequency 20 kHz 7-Level selections Circulation Pump：15-Level selections Agitator：15-Level selections Flow/Fraction Cell：Tempax Glass
Power Supply	120 V AC ±10% or 230 V AC ±10%, 50/60 Hz ±1%
Power Consumption	300 VA
Operating Temperature	15 to 35℃ (59 to 95℉)
Operating Humidity	Relative Humidity 85% or less (no condensation)
External Dimensions	705 x 565 x 500 mm (28 x 23 x 20 in) (W x D x H：not including dimensions of projections)
Mass Approx	56 kg (123 lb)